晶科多晶硅组件通过PID测试

文章来源:中化新网 发布时间:2012-09-19
光伏制造企业晶科能源宣布,其多晶硅组件通过了TüV南德意志集团双85条件下的潜在电势差诱发衰减(PID)测试,即在85℃与相对湿度 85%的测试环境下,组件依然能保证高功率输出.

近日,光伏制造企业晶科能源宣布,其多晶硅组件通过了TüV南德意志集团双85条件下的潜在电势差诱发衰减(PID)测试,即在85℃与相对湿度 85%的测试环境下,组件依然能保证高功率输出。晶科能源由此成为首家通过TüV南德意志集团反向电压与正向电压PID测试并被授予该条件下抗PID证书的光伏企业。

据了解,PID指的是潜在电势差诱发衰减,PID效应是组件长期在高强度负电压作用下使玻璃、封装材料之间存在漏电流,大量电荷聚集在电池片表面,使电池表面的钝化效果恶化,导致填充因子、短路电流、开路电压降低,从而降低组件性能。

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